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与自闭症相关的遗传疾病患病率或远高于既往认知

Mount Sinai医学中心研究人员最新发现,与自闭症密切相关的遗传性疾病Phelan-McDermid综合征的实际患病率远超科学界此前的估计1。该研究基于来自GeneDx、Labcorp、Ambry Genetics、SPARK研究和自闭症测序联盟等十个来源的近18万名接受遗传检测的自闭症患者数据,将患病率重新估算为13.7/100000人,即约1/7300人1。这意味着美国可能有超过45000名Phelan-McDermid综合征患者1。

导致患病率被严重低估的主要原因是诊断不足1。许多患有发育障碍和自闭症的患者从未进行过遗传检测,因此病情未被识别1。相关数据显示,SHANK3基因变异被认为约占自闭症谱系障碍病例的1%1。随着针对该疾病的精准医学方法进入临床试验阶段,扩大遗传检测的可及性变得尤为重要1。研究人员表示真诚相信在未来五年内,这些遗传发现将带来成功的治疗范例1。该研究得到CureSHANK和Neuren Pharmaceuticals的支持1。


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